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Smart Factory

One Way Platform - CEP 수집 처리 통합 플랫폼

"One Way Platform"은 PLC 및 검계측 센서의 스트림 데이터를 추출/수집하는 N-Series 장치를 통해 표준 프로토콜(OPC/UA,SECS/GEM,MQTT 등)의 이벤트 기반 실시간 데이터 처리가 가능하며, 빅데이터 시스템 표준 인터페이스에 의한 다양한 산업솔루션과 통합이 가능한 모듈형 플랫폼입니다.

핵심기술 01 - 수집장치 DATA 취득 범위

SECS/GEM Standard , OPC, Modbus, MQTT

HSMS :SEMI E37, SECS-I: SEMI E04, SECS-II : SEMI E05 등의 반도체 표준프로토콜에서 발생되는 DATA 취득

  • 1. IO Sensor Bridge

    장비의 센서신호를
    Bridge (분배)하여 DATA 취득

  • 2. PLC Data Capture

    제조현장에서 운영중인 다양한 기종의 PLC
    (Programmable Logic Controller)로부터 발생하는 비표준 프로토콜 데이터를 수집하여 산업 표준 프로토콜로 변환, 저장

  • 3. Memory Capture

    Window 기반의 메모리에 저장되어 있는 DATA를 취득

  • 4. VGA Signal Capture

    Monitor에만 표시되는 Data를 취득

  • 5. Log Data Parsing

    장비에서 발생되는 text파일 또는 Database 형태의 Data 취득

  • 4. RFID devices

    RFID 에서 발생되는 DATA 취득

  • 1D/2D Barcode

    Barcode 형태의 DATA 취득

  • 온도, 습도, 압력, 레이저 Sensor

    각종 센서에서 발생되는 Data 취득

핵심기술 02 - 데이터 프로토콜

"One Way Platform"은 모듈 확장형 스마트 센서 연결 기술이 집약된 스마트팩토리 솔루션입니다.
산업의 현장에서는 바코드 스캐너, RFID 리더, 비전영상데이터, 머신데이터,GPS정보 및 검계측 센서 등으로 부터 표준화되지 않은 대용 량의 데이터가 끊임없이 발생하고 있습니다.
OWP의 CEP 모듈(One Way Platform Complex Event Processing Module)은 다양한 이벤트 소스로부터 생성된 이벤트를 대상으로 실시간 (RealTime) 추출/처리가 가능하여 대용량의 데이터로 부터 비즈니스 목적 데이터를 신속하게 분석할 수 있습니다.

AND

METTLER TOLEDO

Anton Paar

TA Instruments

BROOKFIELD

인터랩코리아㈜/kruess

WATERS

Thermo electron corp

BNC(미국)

대련기계상사

PerkinElmer(한국)

AGILENT

CAS

TOHNICHI

IMADA

SPECTRO

OHAUS

Malvern(한국)

Sartorius

KONICA MINOLTA

ATAGO(일본)

DENVER

영린기기

Gerhardt

핵심기술 03 - 통신기술

RS 232

Ethernet

USB

IEEE488

RS422

IRDA

BLE

RF (13.5MHz, 900MHz)

HARDWARE(N-Series)

N-Pro

  • SECS-GEM Log 취득 가능
  • 운영전산 활용 기능
  • 장비 모니터링 기능 지원 (IoT센서 연동 기능)
  • 장비 Log 취득 가능
  • 모듈형 기능 확장 가능 (원격제어, RFID컨트롤러, DIO보드 등)

N-Box

  • Non SECS장비 온라인 지원 가능
  • 장비 모니터링 기능 지원
  • 장비 Log 취득 가능

N-Lite

  • 운영전산 활용 기능
  • 장비 모니터링 기능 지원 (IoT센서 연동 기능)
  • 장비 Log 취득 가능
  • Non SECS장비 온라인 지원 가능
시스템 개발 플랫폼(TSSP)

TSSPOON

S-Builder

S-Desk

P-Mapper

REFERENCE
2016

아모레퍼시픽 품질 Big Data 분석 시스템 구축

  • 검계측 장비 Data 취득을 통한 Data 수집 표준화 및 품질 결함 예측 분석 시스템 구축
2015

SK하이닉스 PKG공정 POI 시스템 구축

  • POI시스템 도입을 통하여 작업자 업무 효율 향상

중국SANDISK UV장비 온라인 시스템 구축

  • Interlock, Recipe 자동변경으로 오류작업 방지
2014

SK하이닉스 PKG공정 C-KIT ID 인식 관리 시스템 구축

  • C-KIT ID 부여를 통한 공정시간 단축 및 품질사고 예방
2013

SK하이닉스 PKG공정 CHIP ID 추적 시스템 구축

  • RFID 및 바코드를 이용하여 개별 CHIP ID 추적 시스템 구축

SK하이닉스 PKG공정 Non SECS 장비 전산화

  • 통신 연계 없는 Non-SECS 공정 장비에 대한 온라인 구현
2012

SK하이닉스 PKG공정 CHIP ID 추적 시스템 구축

  • RFID 및 바코드를 이용하여 개별 CHIP ID 추적 시스템 구축

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